Электронно-микроскопические методы исследования материалов - курсовая работа (Теория) по информатике и телекоммуникациям

 

Тезисы:

  • На тему: "Электронно-микроскопические методы исследования материалов".
  • Оба метода активно используются в исследовании структуры поверхности материала.
  • В ПЭМ объект исследования должен пропускать пучок электронов.
  • Это не позволяет использовать in-situ методику.
  • Измерение локальной жесткости (модуляционная методика) .
  • Р. Хейденрайх Основы просвечивающей электронной микроскопии, Москва, Мир, 1966, с.472.
  • Схема просвечивающего электронного микроскопа.
  • Схема растрового электронного микроскопа.
  • Перемещаясь в плоскости образца над поверхностью, "кантилевер" изгибается, отслеживая ее рельеф.
  • АСМ также применяются для модификации поверхности.
Читать онлайнСкачать курсовую работу (теория)

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные курсовые работы (теория) по информатике и телекоммуникациям