Використання ПЕМ для дослідження структурно-фазового стану матеріалів - курсовая работа (Теория) по физике

 

Тезисы:

  • Використання Режимів Дифракції Та Мікродифракції Для Дослідження Фазового Складу Зразків.
  • Використання Світлопольного Режиму У Наукових Дослідженнях.
  • Більшість приладів використовують для дослідження деталей, розміри яких більше міжатомної відстані.
  • Він призначений для проведення досліджень мікроструктури й фазового складу об'єктів.
  • При використанні фотоплівки вона експонується електронами прямо в камері фотореєстрації ПЕМ.
  • Використання трьохлінзових колон дає можливість досягти збільшення до 105-106 крат.
  • Режим дифракції електронів використовують для дослідження фазового складу плівкових зразків.
  • Проценко І.Ю., Чорноус А.М., Проценко С.І. Прилади та методи дослідження плівкових матеріалів.
  • Діафрагмою останньої конденсорної лінзи визначається ширина пучка в площині об'єкта.
  • У ній розташовані столик об'єктів, системи установки й зміни тримача об'єкта тощо.

 

 

Похожие работы:

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные курсовые работы (теория) по физике