Кристаллографический исследование структуры и потенциальных свойств заданного материала - диплом по физике

 

Тезисы:

  • Краткое описание кристаллографических характеристик и кристаллофизических свойств материалов.
  • Расчёт дифрактограмм заданных материалов.
  • Множитель повторяемости, определяется числом граней кристаллографической формы.
  • Структурная амплитуда рассеяния рентгеновских лучей от плоскости.
  • Структурные типы исследуемых фаз.
  • Рис. 3. Стандартная установка кристаллографических и кристаллофизических осей координат.
  • Исследование вероятности возникновения пьезоэффекта.
  • Исследование вероятности возникновения поляризации.
  • В случае кубических структур символу.
  • Беря модуль и возводя структурную амплитуду в квадрат, получаем правила погасания рефлексов.
Читать онлайнСкачать диплом

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные дипломы по физике