Эллипсометрическое измерение температуропроводности наноструктурированных материалов с использованием импульсного лазерного излучения - курсовая работа (Теория) по физике

 

Тезисы:

  • Измерения теплофизических свойств наноструктурированных материалов импульсным методом [2] .
  • Процессы температуропроводности в нанопокрытиях при воздействии лазерного излучения.
  • Уймин А.А. и др. Измерение температуропроводности пленок методом лазерного считывания.
  • Температуропроводность нанопокрытие лазерный излучение.
  • Использование такого покрытия может повышать или понижать теплофизические свойства материала.
  • 3 Частота импульса лазерного излучения - ?.
  • (спектроскопическое эллипсометрическое модулирование внешним возбуждением) .
  • Ранее измерение теплофизических свойств покрытий оптическим способом не применялось.
  • Данный способ измерения также может использоваться для измерения толщины образца.
  • Разработать методику измерения ТФС, произвести оценку методических погрешностей измерения ТФС.

 

 

Похожие работы:

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные курсовые работы (теория) по физике