Электронная микроскопия как средство изучения строения металлов и сплавов - реферат по физике

 

Тезисы:

  • 1 Метод сканирующей электронной микроскопии.
  • Основы сканирующей электронной микроскопии.
  • 2 Метод просвечивающей электронной микроскопии.
  • 1 приведена схема взаимодействия первичного электронного пучка с образцом.
  • Количество образующихся вторичных электронов слабо зависит от атомного номера элемента.
  • 2, а показан сплав алюминий-кремний с глубоким травлением алюминиевой матрицы.
  • Для получения изображения с высоким разрешением необходима специальная переналадка микроскопа.
  • Медная матрица с волокнами никеля . X1060; в - топографический контраст во вторичных электронах.
  • 2, б-в обратно отраженных.
  • Этот эффект используется для получения информации о топографии поверхности.
Читать онлайнСкачать реферат

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные рефераты по физике