Атомно-силовой микроскоп - диплом по информатике и телекоммуникациям

 

Тезисы:

  • При работе в контактном режиме атомно-силовой микроскоп является аналогом профилометра.
  • В сравнении с растровым электронным микроскопом атомно-силовой микроскоп обладает рядом преимуществ.
  • Атомно-силовая микроскопия позволяет получить истинно трёхмерный рельеф поверхности.
  • К недостаткам атомно-силовой микроскопии следует отнести небольшой размер поля сканирования.
  • История изобретения атомно-силового микроскопа.
  • Конструкция атомно-силового микроскопа.
  • Атомно-силовой микроскоп был создан в 1986 году §Жёсткий корпус, удерживающий систему.
  • Схема работы атомно-силового микроскопа.
  • Контактный режим работы атомно-силового микроскопа.
  • Топографические изображения в атомно-силовом микроскопе обычно получают в одном из двух режимов.
Читать онлайнСкачать диплом

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные дипломы по информатике и телекоммуникациям