Атомно-силовая микроскопия - курсовая работа (Теория) по технологиям машиностроения

 

Тезисы:

  • При использовании атомно-силовой микроскопии не требуется, чтобы образец проводил электричество.
  • Рашкович Л.Н. Атомно-силовая микроскопия процессов кристаллизации в растворе.
  • Также есть микроскопия высокого разрешения на базе ПЭМ Jeol-4000 [2] .
  • Таким методом была получена силовая кривая и измерен коэффициент Пуассона.
  • Так было положено начало эры сканирующей зондовой микроскопии.
  • Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии.
  • Р. Хейденрайх Основы просвечивающей электронной микроскопии, Москва, Мир, 1966, с.472.
  • Принципиальное устройство микроскопа АСМ.
  • Сканирующий туннельный микроскоп.
  • Микроскопии по отношению к другим методам диагностики поверхности.
Читать онлайнСкачать курсовую работу (теория)

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные курсовые работы (теория) по технологиям машиностроения