Основы сканирующей зондовой микроскопии - курсовая работа (Теория) по физике

 

Тезисы:

  • Принципы работы сканирующих зондовых микроскопов.
  • Сканирующие элементы зондовых микроскопов.
  • Сканирующий зондовая микроскопия изображение.
  • Рассмотрим общие черты, присущие различным зондовым микроскопам.
  • Защита зондовых микроскопов от внешних воздействий.
  • Рабочая часть таких зондов (острие) имеет размеры порядка десяти нанометров.
  • Такой сканирующий элемент называется триподом.
  • Сканирующий элемент в виде трипода, собранный на трубчатых пьезоэлементах.
  • Широкое распространение получили также сканеры на основе биморфных пьзоэлементов.
  • Изгиб биморфа под действием электрических полей положен в основу работы биморфных пьезосканеров.
Читать онлайнСкачать курсовую работу (теория)

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные курсовые работы (теория) по физике