Сканирующая зондовая микроскопия - реферат по физике

  • Тип: Реферат
  • Предмет: Физика
  • Все рефераты по физике »
  • Язык:
  • Автор: user
  • Программа: Microsoft Word 8.0
  • Дата: 3 мая 2024
  • Формат: DOC
  • Размер: 80 Кб
  • Страниц: 25
  • Слов: 4873
  • Букв: 34303
  • Просмотров за сегодня: 1
  • За 2 недели: 7
  • За все время: 588

 

Тезисы:

  • Что такое сканирующая зондовая микроскопия.
  • Сканирующие Зондовые Микроскопы российской компании НТ-МДТ моделей.
  • Близкопольная сканирующая микроскопия (БСМ) .
  • Сканирующая туннельная микроскопия (СТМ).
  • Сканирующая силовая микроскопия (ССМ).
  • I (Z) и сканирование распределения величин dI/dU и dI/dz по поверхности образца.
  • Вообще, в зависимости от образца необходимо подбирать направление сканирования.
  • Их величина зависит от скорости сканирования, петлевого коэффициента усиления, характера рельефа.
  • Во время сканирования по +Х или -X возникает дополнительная крутильная деформация кантилевера.
  • Измерительная система микроскопа позволяет регистрировать кручение кантилевера.
Читать онлайнСкачать реферат

 

 

Похожие работы:

Еще похожие работы

Предметы

Все предметы »

 

 

Актуальные рефераты по физике